半导体分立器件和集成电路装调工四级中级工-半导体分立器件和集成电路键合工 详细题库
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第 1 题 单选题千分尺测微螺杆的螺距通常为( )。
- A. 0.5mm
- B. 1mm
- C. 0.1mm
- D. 2mm
解析:千分尺测微螺杆的螺距一般为0.5mm,固定套筒上的刻度每格0.5mm,微分筒圆周刻度50等分,每格对应0.01mm。 -
第 2 题 单选题使用千分尺测量时,当测微螺杆接近被测物体时,应旋转( )。
- A. 微分筒
- B. 棘轮机构
- C. 固定套筒
- D. 锁紧装置
解析:为防止用力过大损坏千分尺或被测物体,接近被测物体时应旋转棘轮机构(测力装置),听到“咔咔”声即停止。 -
第 3 题 单选题千分尺的读数中,固定套筒上露出的刻度为5.5mm,微分筒上的刻度对准35(估读为0.005mm),则最终测量值为( )。
- A. 5.850mm
- B. 5.835mm
- C. 5.850mm
- D. 5.855mm
解析:固定套筒5.5mm,微分筒35格对应0.35mm,加上估读0.005mm得0.355mm,合计5.855mm。 -
第 4 题 单选题关于千分尺的维护保养,下列做法错误的是( )。
- A. 使用后用干净软布擦净
- B. 长期不用时涂防锈油
- C. 在测量过程中可随意用力旋转微分筒
- D. 应定期进行检定校准
解析:测量过程中应使用棘轮机构旋转,不可随意用力旋转微分筒,以免损坏螺纹或影响精度。 -
第 5 题 判断题千分尺的微分筒圆周上有50等分刻度,因此其分度值为0.01mm。
- A. 对
- B. 错
解析:因为测微螺杆螺距0.5mm,微分筒旋转一圈移动0.5mm,50等分则每格0.01mm,读数时可估读至0.001mm。 -
第 6 题 判断题使用千分尺测量工件时,可以测量正在旋转的工件。
- A. 对
- B. 错
解析:测量正在旋转的工件会损坏千分尺的测量面,且无法准确读数,应停止工件后再测量。 -
第 7 题 多选题千分尺在使用前需要进行哪些检查?( )
- A. 检查零位是否准确
- B. 检查测量面是否清洁
- C. 检查微分筒转动是否灵活
- D. 检查棘轮机构是否正常工作
- E. 检查千分尺的测量范围是否合适
解析:使用前应检查零位、清洁、转动灵活及棘轮机构;测量范围需根据工件选择,不属于使用前常规检查项目。 -
第 8 题 多选题关于千分尺的读数方法,下列说法正确的有( )。
- A. 先读固定套筒上露出的刻度(包括半毫米刻度)
- B. 再读微分筒上与基线对齐的刻度
- C. 读数时需估读到毫米的千分位
- D. 若固定套筒上半毫米刻度未露出,则直接读微分筒数值
- E. 读数结果应精确到0.01mm,不需要估读
解析:D错误,因为未露出半毫米刻度时仍需加上固定套筒整数部分;E错误,千分尺读数需估读到0.001mm。A、B、C正确。
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