半导体分立器件和集成电路装调工二级技师-集成电路管壳制造工 详细题库

统计过程控制常用方法 题目预览

• 第 1 题 单选题
  在X-R控制图中，X图主要用于监控过程的（ ）。
  • A. 离散程度
  • B. 中心位置
  • C. 分布形状
  • D. 波动范围
  解析：X图（均值控制图）用于监控过程数据的中心位置或平均水平的变化，而R图（极差控制图）用于监控过程的离散程度。
• 第 2 题 单选题
  在计算X-R控制图的控制限时，若子组大小为5，查表得A2系数为0.577，已知总平均值为10.0，平均极差为1.0，则X图上控制限约为（ ）。
  • A. 10.577
  • B. 10.288
  • C. 9.423
  • D. 11.155
  解析：X图上控制限（UCLx）的计算公式为：UCLx = X̄ + A2 * R̄。代入已知值：10.0 + 0.577 * 1.0 = 10.577。
• 第 3 题 单选题
  在X-R控制图的分析中，连续7点上升或下降通常被视为过程出现（ ）。
  • A. 偶然波动
  • B. 异常波动
  • C. 正常波动
  • D. 周期性波动
  解析：在控制图判异准则中，连续7点或更多点呈现上升或下降的趋势，是过程存在异常波动的信号，表明过程均值可能发生了偏移。
• 第 4 题 单选题
  建立X-R控制图时，合理的子组大小通常建议在（ ）。
  • A. 1至2个
  • B. 2至3个
  • C. 3至5个
  • D. 10个以上
  解析：在建立X-R控制图时，子组大小通常建议在3到5个观测值之间，这样可以在控制过程均值的同时，也能有效地估计组内变异。
• 第 5 题 判断题
  X-R控制图适用于监控计量型数据，并且要求数据服从或近似服从正态分布。
  • A. 对
  • B. 错
  解析：X-R控制图是用于计量型数据的控制图，其理论基础是正态分布。当过程稳定时，子组均值近似服从正态分布。
• 第 6 题 判断题
  在X-R控制图中，只要所有点都落在控制限内，就说明过程绝对没有异常。
  • A. 对
  • B. 错
  解析：点落在控制限内是过程受控的必要条件，但不是充分条件。还需要结合其他判异准则（如链、趋势、接近控制限等）进行综合判断，有时即使所有点在控制限内，也可能存在异常波动模式。
• 第 7 题 多选题
  在X-R控制图中，如果出现点子超出控制界限，可能的原因包括（ ）。
  • A. 原材料批次发生变化
  • B. 设备出现突发故障
  • C. 操作人员技能水平差异
  • D. 测量系统出现显著误差
  • E. 环境温湿度正常波动
  解析：点子超出控制界限是明显的异常信号。原材料变化(A)、设备故障(B)、人员差异(C)、测量误差(D)都可能导致过程均值或变异发生显著变化。环境正常波动(E)属于偶然因素，通常不会引起点子出界。
• 第 8 题 多选题
  关于X-R控制图中的R图（极差控制图），其主要作用包括（ ）。
  • A. 监控过程的标准差
  • B. 监控过程的均值变化
  • C. 反映组内波动情况
  • D. 用于计算X图的控制限
  • E. 直接反映产品的规格符合性
  解析：R图通过监控子组极差来反映过程的组内波动(C)或标准差(A)，并且R图的平均极差（R̄）是计算X图控制限的重要参数(D)。监控均值变化是X图的作用(B)，而控制图主要用于监控过程稳定性，而非直接反映产品规格(E)。