集成电路工程技术人员三级高级工-集成电路设计 详细题库

集成电路测试技术及失效分析知识 题目预览

• 第 1 题 单选题
  功能测试向量生成方法中，通过分析电路结构并推导输入激励与输出响应之间逻辑关系的方法是（ ）。
  • A. 伪随机测试生成法
  • B. 确定性测试生成法
  • C. 基于故障字典的方法
  • D. 自适应测试法
  解析：确定性测试生成法是基于电路的结构和功能，通过逻辑推理和算法（如D算法、PODEM算法）来生成能够检测特定故障的测试向量，区别于随机的或基于故障统计的方法。
• 第 2 题 单选题
  在功能测试中，能够有效降低测试向量数量和应用时间，但可能牺牲一定故障覆盖率的生成方法是（ ）。
  • A. 穷举测试法
  • B. 伪随机测试生成法
  • C. 确定性测试生成法
  • D. 基于故障仿真的方法
  解析：伪随机测试生成法利用伪随机序列作为测试向量，其生成速度快、向量存储需求相对较小，但为了达到高故障覆盖率可能需要较长的测试序列，有时需要通过故障模拟来评估其效率并可能进行向量压缩。
• 第 3 题 单选题
  对于大规模集成电路，常采用将长测试序列压缩成短签名，并通过比较签名进行结果判定的方法是（ ）。
  • A. 内置自测试技术
  • B. 扫描测试技术
  • C. 自适应测试法
  • D. 边界扫描测试
  解析：内置自测试（BIST）技术通过在芯片内部集成测试向量生成器和输出响应分析器（如LFSR和MISR），将输出响应压缩成签名，并与无故障电路的黄金签名进行比较，从而实现自我测试，尤其适用于大规模电路。
• 第 4 题 单选题
  在功能测试向量生成中，需要事先对可能发生的故障进行模拟并建立故障与输出响应映射关系的方法是（ ）。
  • A. 确定性测试生成法
  • B. 伪随机测试生成法
  • C. 基于故障字典的方法
  • D. 自适应测试法
  解析：基于故障字典的方法需要在测试前进行故障模拟，记录每种故障下的电路输出响应，并构建故障字典。测试时，将实际响应与字典中的记录进行比对，以确定故障类型。
• 第 5 题 判断题
  功能测试向量生成中的确定性算法总是能保证找到检测指定故障的测试向量，如果该故障是可测的。
  • A. 对
  • B. 错
  解析：确定性测试生成算法（如D算法）在理论上对于可测的故障，能够通过严格的逻辑推导和路径敏化，找到能够激活故障并将故障效应传播到可观测输出的测试向量。
• 第 6 题 判断题
  伪随机测试向量生成方法因其随机性，无法达到100%的单固定故障覆盖率。
  • A. 对
  • B. 错
  解析：伪随机测试向量的生成具有随机性，可能无法覆盖某些难以激活或传播的特定故障，尤其是对于大型时序电路或具有冗余结构的电路，要达到100%的单固定故障覆盖率通常非常困难或需要极长的测试序列。
• 第 7 题 多选题
  以下关于功能测试向量生成方法的描述中，正确的有（ ）。
  • A. 穷举测试法对n输入电路需要2^n个测试向量，保证检测所有可测故障。
  • B. 伪随机测试生成法生成的向量通常具有较好的故障覆盖率，且向量生成速度快。
  • C. 确定性测试生成法针对特定故障生成测试向量，通常向量集较精简。
  • D. 内置自测试技术将测试向量生成和响应分析功能集成在电路内部。
  • E. 基于故障字典的方法在测试应用阶段需要存储大量响应数据，测试时间较长。
  解析：A正确，穷举测试法测试向量数与输入数成指数关系，理论上能检测所有可测故障。B不完全正确，伪随机测试生成法速度快，但其故障覆盖率不一定总是“较好”，可能需要很长的序列才能达到高覆盖率。C正确，确定性方法针对性强，向量集通常较小。D正确，这是BIST的核心特点。E错误，基于故障字典的方法在测试应用阶段主要进行响应比对，测试时间相对较短，但需要前期大量的故障模拟和存储故障字典。
• 第 8 题 多选题
  下列技术或方法中，常用于或属于功能测试向量生成范畴的有（ ）。
  • A. 扫描路径技术
  • B. 布尔差分法
  • C. 边界扫描技术
  • D. 遗传算法
  • E. 故障压缩技术
  解析：A正确，扫描路径技术是一种DFT方法，通过将时序电路转化为可控制的组合电路网络，极大地便利了测试向量的生成与应用。B正确，布尔差分法是一种数学方法，用于从功能上推导检测逻辑电路中固定故障的测试向量。C错误，边界扫描技术（如JTAG）主要用于板级互连测试和芯片引脚状态控制，其测试向量生成并非其主要关注点，且通常不直接针对芯片内部功能逻辑。D正确，遗传算法等智能优化算法可用于测试向量的生成和优化。E错误，故障压缩技术是用于减少需要针对的故障数量，而不是直接生成测试向量。